Szkoła Diagnostyki iPhone – Moduł 2: Pomiary, zasilanie i analiza usterek

119,00 

Moduł 2 kursu Szkoła Diagnostyki iPhone to praktyczne rozwinięcie wiedzy zdobytej w pierwszej części. Uczestnicy uczą się pracy z dokumentacją techniczną, taką jak schematy i boardview, oraz wykonywania precyzyjnych pomiarów diagnostycznych na płycie głównej. Kurs obejmuje analizę układów odpowiedzialnych za zasilanie, sygnały i magistrale danych, a także omawia realne przypadki usterek – w tym diagnozowanie i usuwanie zwarć oraz analizę funkcjonowania układów USB. To krok w stronę skutecznej, profesjonalnej naprawy urządzeń Apple.

Opis

W drugiej części kursu „Szkoła Diagnostyki iPhone – Moduł 2” uczestnicy rozwijają swoją wiedzę w zakresie praktycznych pomiarów oraz pracy z dokumentacją techniczną płyt głównych iPhone’ów. Kurs skupia się na stosowaniu technik diagnostycznych w rzeczywistych przypadkach serwisowych.

Uczestnicy nauczą się:

Jak poprawnie wykonywać pomiary za pomocą multimetru i innych narzędzi diagnostycznych,

Jak analizować schematy elektroniczne i korzystać z plików boardview,

Jak zrozumieć strukturę i dystrybucję zasilania na płycie głównej,

Jakie funkcje pełnią poszczególne układy i linie sygnałowe oraz magistrale danych.

Kurs zawiera również przykłady typowych usterek spotykanych w iPhone’ach – pokazujemy, jak krok po kroku zlokalizować zwarcie, zrozumieć jego przyczynę i skutecznie je usunąć.
Dodatkowo omawiamy diagnostykę układów odpowiedzialnych za komunikację USB oraz ich znaczenie w procesie serwisowym.

Ten moduł to niezbędny krok dla każdego, kto chce pogłębić swoje kompetencje w zakresie profesjonalnej diagnostyki płyt głównych iPhone’a.

lekcja pomiary na płytach głównych iPhone

Koszyk0
Brak produktów w koszyku!
0